系统芯片的软硬件协同测试方法 - 第六届全国信息获取与处理学术会议.pdf

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2026-1-12 17:25 | 查看全部 阅读模式

会议论文《系统芯片的软硬件协同测试方法》发表于第六届全国信息获取与处理学术会议。该文提出了一种针对系统芯片的软硬件协同测试方法,旨在提高测试效率和准确性。通过结合软件仿真与硬件测试,实现了对系统芯片功能的全面验证。研究为复杂电子系统的测试提供了新的思路和技术支持,具有重要的理论和应用价值。

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系统芯片的软硬件协同测试方法 - 第六届全国信息获取与处理学术会议
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