会议论文《系统级测试中BIT的应用及其验证技术》探讨了内置自测试（BIT）在系统级测试中的关键作用及其实现方法。文章分析了BIT技术如何提高系统的可测试性和故障诊断效率，并提出了一系列验证技术以确保其可靠性。该论文针对当前复杂电子系统的测试需求，提出了有效的解决方案，为测试与故障诊断技术的发展提供了理论支持和实践指导。
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