会议论文《管道厚度对电容层析成像的影响》发表于第19届中国过程控制会议，探讨了管道结构参数对电容层析成像精度的影响。研究通过实验与仿真分析，揭示了不同厚度管道对电场分布及图像重建结果的作用机制，为优化电容层析成像系统设计提供了理论依据和技术支持。
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