硅、镁质耐火材料的X荧光法分析 - 2008年耐火材料学术交流会.pdf

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2026-1-12 17:01 | 查看全部 阅读模式

会议论文《硅、镁质耐火材料的X荧光法分析》介绍了利用X射线荧光光谱技术对硅、镁质耐火材料进行快速、准确的成分分析方法。该研究通过实验验证了X荧光法在测定耐火材料中主要元素含量方面的可行性与精确性,为耐火材料的生产控制和质量检测提供了有效手段。论文在2008年耐火材料学术交流会上发表,对相关领域的技术发展具有重要参考价值。

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硅、镁质耐火材料的X荧光法分析 - 2008年耐火材料学术交流会
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