会议论文《片式钽电容器加速环境试验技术应用探讨》发表于中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会。文章围绕片式钽电容器在加速环境试验中的技术应用展开研究，分析了不同环境条件对器件性能的影响，提出了优化试验方法的建议，旨在提高产品可靠性与使用寿命，为电子元器件的测试与评估提供了理论支持和实践参考。
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