会议论文《热烧结和退火对ZnO薄膜场致发射特性的影响》探讨了热烧结与退火工艺对ZnO薄膜场致发射性能的影响。研究通过实验分析不同热处理条件下的薄膜结构与电学特性，发现适当的退火可改善薄膜的结晶质量，从而提升其场致发射性能。该成果为优化ZnO薄膜在电子器件中的应用提供了理论依据。
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