会议论文《浅谈CEDI膜元件污堵、污染及结垢的处理方法》针对电去离子技术中常见的膜元件问题进行了深入分析。文章探讨了污堵、污染及结垢的成因,并提出了相应的处理与预防措施,为提高CEDI系统运行效率和延长设备寿命提供了理论依据和实践指导。
文档为pdf格式,0.18MB,总共5页。
举报