数字电位器的测试程序设计 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会.pdf

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2026-1-12 14:16 | 查看全部 阅读模式

会议论文《数字电位器的测试程序设计》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会,旨在探讨数字电位器在现代电子系统中的测试方法与实现技术。文章详细介绍了测试程序的设计思路、功能模块及其实现方案,强调了测试过程的准确性与可靠性。该研究对提高数字电位器的性能评估效率具有重要意义,为相关领域的工程应用提供了理论支持和技术参考。

文档为pdf格式,0.21MB,总共3页。

数字电位器的测试程序设计 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
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