会议论文《数字电位器的测试程序设计》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会,旨在探讨数字电位器在现代电子系统中的测试方法与实现技术。文章详细介绍了测试程序的设计思路、功能模块及其实现方案,强调了测试过程的准确性与可靠性。该研究对提高数字电位器的性能评估效率具有重要意义,为相关领域的工程应用提供了理论支持和技术参考。
文档为pdf格式,0.21MB,总共3页。
举报