会议论文《数字软IP核评测与认证方法和流程》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了数字软IP核的评测标准与认证流程。文章分析了当前IP核测试中的关键问题，提出了一套系统化的评测方法，涵盖功能验证、性能评估及安全性检测等方面。该研究为提升IP核的可靠性与兼容性提供了理论支持和技术指导，对推动集成电路设计与测试技术的发展具有重要意义。
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