会议论文《微米级炸药晶体缺陷的μVCT试验研究》介绍了利用μVCT技术对微米级炸药晶体内部缺陷进行无损检测的研究。该研究通过高分辨率成像，有效识别了炸药晶体中的微小裂纹与空隙，为提高炸药性能与安全性提供了重要数据支持。
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