应用模糊聚类分析确定自动测试系统校准周期 - 2008中国仪器仪表与测控技术报告大会.pdf

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2026-1-12 13:34 | 查看全部 阅读模式

会议论文《应用模糊聚类分析确定自动测试系统校准周期》提出了一种基于模糊聚类分析的方法,用于优化自动测试系统的校准周期。该方法通过分析设备的运行数据和性能变化,实现对校准间隔的科学划分,提高测试精度和系统可靠性。论文在2008年中国仪器仪表与测控技术报告大会上发表,为相关领域的自动化检测提供了理论支持和技术参考。

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应用模糊聚类分析确定自动测试系统校准周期 - 2008中国仪器仪表与测控技术报告大会
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