会议论文《应对RF SOC_SIP量产测试挑战》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了射频系统级芯片（RF SOC_SIP）在量产测试中面临的技术难题与解决方案。文章分析了测试效率、成本控制及可靠性保障等关键问题，并提出优化测试策略与方法，为提升RF SOC_SIP的测试性能和产品质量提供了理论支持与实践指导。
文档为pdf格式，0.69MB，总共5页。
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