会议论文《存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用》介绍了内建自测试（BIST）技术在现代芯片设计中的重要作用。该文由华东计算技术研究所研究人员撰写，旨在探讨如何通过BIST提高存储器测试效率和可靠性。文章结合实际案例，分析了BIST技术在不同应用场景下的优势与挑战，为芯片设计提供了有价值的参考。
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