基于集成电路测试程序的软件测试研究 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会.pdf

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2026-1-12 12:31 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于集成电路测试程序的软件测试研究》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会。该文探讨了如何将集成电路测试中的方法和理念应用于软件测试领域,旨在提高软件测试的效率与准确性。研究提出了多种适用于复杂系统的测试策略,为软件工程提供了新的思路和技术支持。

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基于集成电路测试程序的软件测试研究 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
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