会议论文《基于边界扫描和BIST的电路板可测试性设计技术研究》探讨了如何利用边界扫描技术和内置自测试（BIST）方法提高电路板的可测试性。文章分析了两种技术的原理及其在实际应用中的优势，提出了结合两者的设计方案，以提升故障检测效率和系统可靠性。该研究为现代电子产品的测试与诊断提供了有效技术支持，具有重要的工程应用价值。
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