会议论文《基于扫描链的数字电路硅验证技术研究》发表于第十二届计算机工程与工艺全国学术年会（NCCET08）。该文探讨了利用扫描链技术进行数字电路硅验证的方法，旨在提高芯片测试效率和故障覆盖率。通过分析扫描链结构及其在实际测试中的应用，作者提出了优化验证流程的策略，对提升集成电路测试水平具有重要意义。
文档为pdf格式，0.66MB，总共5页。
举报
