会议论文《基于SAPPHIRE测试系统的VCD测试向量转换》介绍了如何将VCD测试向量转换为适用于SAPPHIRE测试系统的格式。该研究针对集成电路测试中的向量兼容性问题，提出了一种有效的转换方法，提高了测试效率与准确性。论文在第五届中国测试学术会议上发表，对测试技术的进一步发展具有重要意义。
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