单片机实现的集成芯片逻辑功能测试仪 - 中国电子学会第十五届信息论学术年会暨第一届全国网络编码学术年会.pdf

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2026-1-12 10:25 | 查看全部阅读模式

会议论文《单片机实现的集成芯片逻辑功能测试仪》介绍了基于单片机设计的集成芯片逻辑功能测试装置。该测试仪通过单片机控制，能够对集成电路进行逻辑功能的自动检测与分析，提高了测试效率和准确性。文章详细阐述了系统硬件结构、软件流程及其实现方法，为集成电路测试提供了实用方案。

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