会议论文《Monte Carlo法在平板裂缝天线辐射缝导纳误差分析中的应用》发表于2008年全国电磁兼容学术会议(EMC08)。该文利用Monte Carlo方法对平板裂缝天线中辐射缝的导纳误差进行分析,通过随机抽样模拟实际制造误差对天线性能的影响,为提高天线设计的鲁棒性提供了理论依据。
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