Monte Carlo法在平板裂缝天线辐射缝导纳误差分析中的应用 - 2008年全国电磁兼容学术会议(EMC08).pdf

8 0
2026-1-12 07:50 | 查看全部 阅读模式

会议论文《Monte Carlo法在平板裂缝天线辐射缝导纳误差分析中的应用》发表于2008年全国电磁兼容学术会议(EMC08)。该文利用Monte Carlo方法对平板裂缝天线中辐射缝的导纳误差进行分析,通过随机抽样模拟实际制造误差对天线性能的影响,为提高天线设计的鲁棒性提供了理论依据。

文档为pdf格式,0.19MB,总共4页。

Monte Carlo法在平板裂缝天线辐射缝导纳误差分析中的应用 - 2008年全国电磁兼容学术会议(EMC08)
文件大小:
194.56 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1