会议论文《ICP-AES分析方法中的光谱干扰与校正》探讨了电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）在实际应用中遇到的光谱干扰问题及其校正方法。文章分析了常见干扰源，如背景干扰、谱线重叠和基体效应，并提出了相应的校正策略，以提高分析准确性和可靠性。该研究对提升ICP-AES技术在材料分析中的应用具有重要意义。
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