会议论文《针对小时延缺陷的时延测试方法综述》探讨了在数字电路中由于小时延缺陷导致的时序问题及其检测方法。文章系统总结了现有的时延测试技术，分析了不同方法的优缺点，并提出了未来研究方向。该论文为提高电路可靠性提供了理论支持和技术参考，是容错计算领域的重要研究成果。
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