硅光电二极管高能标定技术 - 第二届全国核技术及应用研究学术研讨会.pdf

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2026-1-11 20:52 | 查看全部 阅读模式

会议论文《硅光电二极管高能标定技术》发表于第二届全国核技术及应用研究学术研讨会,探讨了硅光电二极管在高能条件下的标定方法与技术。该文针对核辐射探测中硅光电二极管的性能稳定性问题,提出了一套有效的高能标定方案,为提升探测精度和可靠性提供了理论支持和技术参考。

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硅光电二极管高能标定技术 - 第二届全国核技术及应用研究学术研讨会
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