硅电容差压传感器性能测试中PLC对压力的控制 - 第11届全国敏感元件与传感器学术会议.pdf

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2026-1-11 20:52 | 查看全部 阅读模式

会议论文《硅电容差压传感器性能测试中PLC对压力的控制》探讨了在传感器测试过程中如何利用PLC实现对压力的精确控制。文章介绍了基于PLC的控制系统设计,分析了其在压力调节和数据采集中的应用效果。研究结果表明,该方法提高了测试的稳定性和准确性,为硅电容差压传感器的性能评估提供了可靠的技术支持。

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硅电容差压传感器性能测试中PLC对压力的控制 - 第11届全国敏感元件与传感器学术会议
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