电子设备外壳屏蔽效果仿真研究 - 2009年全国电工理论与新技术年会(CTATEE09).pdf

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2026-1-11 20:35 | 查看全部 阅读模式

会议论文《电子设备外壳屏蔽效果仿真研究》发表于2009年全国电工理论与新技术年会(CTATEE09)。该文通过电磁仿真技术,分析了电子设备外壳对电磁干扰的屏蔽效果,探讨了材料、结构及频率等因素对屏蔽性能的影响,为提高电子设备的电磁兼容性提供了理论依据和技术参考。

文档为pdf格式,0.81MB,总共3页。

电子设备外壳屏蔽效果仿真研究 - 2009年全国电工理论与新技术年会(CTATEE09)
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