会议论文《大规模逻辑器件的可测试性设计》发表于第三届全国虚拟仪器学术交流大会。该文探讨了在大规模逻辑器件设计中如何提高可测试性，以增强故障诊断效率和系统可靠性。作者提出了多种优化方法，旨在简化测试过程并降低测试成本。论文结合实际案例，展示了可测试性设计在现代电子系统中的重要应用价值。
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