会议论文《基于透射光谱法拟合高掺Sn二氧化硅薄膜的参数》探讨了利用透射光谱技术对高掺Sn二氧化硅薄膜的光学参数进行拟合分析。研究旨在通过实验数据与理论模型的结合，准确提取薄膜的折射率、厚度等关键参数，为高性能光学器件的设计与制备提供理论依据和技术支持。
文档为pdf格式，0.36MB，总共7页。
举报
