会议论文《具有指数型补偿的高性能带隙基准电路》发表于四川省电子学会2009年学术年会，旨在研究一种提高带隙基准电路性能的方法。该文提出采用指数型补偿技术，有效改善了传统带隙基准电路中的温度漂移问题，提升了电路的稳定性与精度。通过优化电路结构，实现了更低的电压输出波动和更高的工作可靠性，适用于高精度模拟集成电路设计。
文档为pdf格式，0.09MB，总共2页。
举报
