光电耦合器辐射效应研究 - 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会.pdf

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2026-1-11 13:12 | 查看全部 阅读模式

会议论文《光电耦合器辐射效应研究》发表于第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会,主要探讨了光电耦合器在辐射环境下的性能变化及失效机制。研究通过实验分析了不同辐射剂量对器件传输特性的影响,为提高光电耦合器的抗辐射能力提供了理论依据和技术参考。

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光电耦合器辐射效应研究 - 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
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