会议论文《OEM压阻芯片性能测试及装置》发表于第11届全国敏感元件与传感器学术会议。该文主要探讨了OEM压阻式传感器芯片的性能测试方法及其实验装置设计，旨在提高测试精度和效率。文章详细介绍了测试系统的结构组成、关键参数的测量方法以及实验结果分析，为压阻传感器的研发与应用提供了理论依据和技术支持。
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