会议论文《Mueller矩阵M11_M00值表征粗糙表面的退偏特性》探讨了利用Mueller矩阵中的M11与M00值来分析粗糙表面的退偏特性。该研究通过实验与理论分析，揭示了不同表面结构对光偏振状态的影响，为光学表面检测提供了新方法。论文发表于2009年江苏省“光科学与技术”博士生学术论坛，具有重要的学术价值和应用前景。
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