会议论文《Fe-Ni合金薄膜组成准确测量的X射线光电子能谱研究》探讨了利用X射线光电子能谱（XPS）技术对Fe-Ni合金薄膜成分进行精确分析的方法。该研究针对2009年全国第二届电磁材料及器件学术会议的主题，提出了有效的表征手段，为电磁材料的性能优化提供了理论依据和技术支持。
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