会议论文《电负荷历史对ZnO压敏电阻电容量测试结果的影响》探讨了电负荷历史对ZnO压敏电阻电容量测试结果的影响。该研究在电压敏专业学部第十七届学术年会上发表，旨在揭示电负荷变化对材料电气性能的潜在影响，为提高测试精度和可靠性提供理论依据。
文档为pdf格式，0.39MB，总共5页。
举报
