复杂介观结构的电子断层扫描解析 - 2010中国材料研讨会.pdf

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2026-1-11 03:08 | 查看全部 阅读模式

会议论文《复杂介观结构的电子断层扫描解析》发表于2010年中国材料研讨会,探讨了利用电子断层扫描技术对复杂介观结构进行三维重构与分析的方法。该研究为材料科学提供了重要的微观结构表征手段,有助于深入理解材料的性能与结构之间的关系,具有重要的理论和应用价值。

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复杂介观结构的电子断层扫描解析 - 2010中国材料研讨会
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