会议论文《基于变比模型的AFM扫描器迟滞建模与控制》发表于第21届中国过程控制会议，旨在研究原子力显微镜（AFM）扫描器在扫描过程中产生的迟滞现象。文章提出一种变比模型，用于更精确地描述和控制迟滞行为，提高AFM的成像精度与稳定性。该研究对提升纳米级测量与操控技术具有重要意义。
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