受损梨的近红外光谱检测 - 广州市仪器仪表学会2009年学术年会.pdf

7 0
2026-1-11 02:09 | 查看全部 阅读模式

会议论文《受损梨的近红外光谱检测》发表于广州市仪器仪表学会2009年学术年会,探讨了利用近红外光谱技术对受损梨进行无损检测的方法。该研究为水果品质检测提供了新的技术手段,具有重要的实际应用价值。

文档为pdf格式,0.39MB,总共5页。

受损梨的近红外光谱检测 - 广州市仪器仪表学会2009年学术年会
文件大小:
399.36 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1