会议论文《受损梨的近红外光谱检测》发表于广州市仪器仪表学会2009年学术年会,探讨了利用近红外光谱技术对受损梨进行无损检测的方法。该研究为水果品质检测提供了新的技术手段,具有重要的实际应用价值。
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