Ge纳米点_Si纳米线复合结构制备及微结构特征分析 - 第十一届全国MOCVD学术会议.pdf

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2026-1-11 00:25 | 查看全部 阅读模式

会议论文《Ge纳米点_Si纳米线复合结构制备及微结构特征分析》介绍了通过MOCVD技术制备Ge纳米点与Si纳米线复合结构的方法。文章详细分析了该复合结构的微结构特征,包括形貌、成分和晶体质量等。研究结果对新型半导体器件的开发具有重要意义,为纳米材料在光电子领域的应用提供了理论支持。

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Ge纳米点_Si纳米线复合结构制备及微结构特征分析 - 第十一届全国MOCVD学术会议
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