会议论文《CCD在不同通量电子辐照下的损伤机理研究》探讨了CCD器件在不同电子辐照通量下的损伤特性。通过实验分析，研究揭示了电子辐照对CCD性能的影响机制，包括暗电流增加、响应度下降及图像质量退化等现象。该研究为提高CCD在高辐射环境下的可靠性提供了理论依据和技术支持，具有重要的应用价值。
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