会议论文《考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型》发表于第六届中国测试学术会议。该文提出一种新的软件可靠性模型，引入Logistic函数描述测试覆盖率与时间的关系，并考虑排错过程中的不完美性，提高模型对实际软件测试过程的拟合度与预测精度。
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