会议论文《电子设备不同孔洞屏蔽效果研究》发表于全国抗恶劣环境计算机第二十届学术年会，探讨了电子设备中不同形状、尺寸和分布的孔洞对电磁屏蔽性能的影响。研究通过实验与仿真相结合的方法，分析了孔洞参数与屏蔽效能之间的关系，为提高电子设备的电磁兼容性提供了理论依据和技术支持。
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