会议论文《片上SRAM内建自测试的实现方法》发表于第六届中国测试学术会议，探讨了如何在片上SRAM中实现内建自测试技术。文章提出了一种有效的测试方案，能够提高SRAM的故障检测能力，确保芯片在制造和使用过程中的可靠性。该方法通过设计特定的测试电路和算法，实现了对SRAM存储单元的快速诊断与定位，为集成电路测试提供了实用参考。
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