会议论文《测试技术的完美结合——FlyScan飞针与边界扫描联合测试》介绍了FlyScan飞针测试技术与边界扫描测试（JTAG）相结合的应用。该文探讨了两种技术在PCB测试中的互补优势，提升了测试效率和故障定位精度。通过实际案例分析，展示了联合测试在复杂电路板检测中的有效性，为SMT行业提供了新的测试解决方案。
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