嵌入式软件错误注入测试过程框架 - 全国信息与电子工程第四届学术年会暨四川省电子学会曙光分会第十五届学术年会.pdf

5 0

2026-1-10 22:40 | 查看全部阅读模式

会议论文《嵌入式软件错误注入测试过程框架》探讨了在嵌入式系统开发中如何通过错误注入技术提高软件可靠性。该文提出了一种系统化的测试过程框架，旨在模拟各种故障场景，以评估软件的容错能力。文章结合全国信息与电子工程学术年会的研讨成果，为嵌入式软件测试提供了理论支持和实践指导。

文档为pdf格式，0.38MB，总共5页。