会议论文《容软错误的电路选择性加固技术》发表于第六届中国测试学术会议，探讨了如何通过选择性加固电路来提高系统对软错误的容忍能力。该研究针对集成电路中因粒子辐射引起的软错误问题，提出了一种有效的加固策略，能够在不影响性能的前提下提升电路的可靠性。论文为高可靠性电子系统的设计提供了理论支持和技术参考。
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