会议论文《减少自反馈测试硬件代价的两种方法》提出两种有效降低自反馈测试中硬件开销的技术。该文针对传统测试方法中资源消耗大的问题，通过优化测试结构和引入高效算法，显著减少了所需硬件资源。研究结果表明，这两种方法在保证测试覆盖率的同时，提升了系统性能并降低了成本，对测试领域具有重要参考价值。
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