会议论文《ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析》探讨了自动测试设备（ATE）的发展历程及其技术进步的规律。文章还深入分析了多点测试在集成电路测试中的成本效益，为提高测试效率和降低生产成本提供了理论依据和技术参考。
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