会议论文《2m比长仪纳米级高精度刻线自动瞄准系统》介绍了针对2m比长仪设计的高精度自动瞄准系统。该系统通过先进的光学和电子技术，实现了纳米级的刻线定位与对准，提高了测量效率和精度。论文详细阐述了系统的结构、工作原理及实验结果，为几何量精密测量技术的发展提供了重要参考。
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