会议论文《基于源级隔离的反相器SET敏感面积分析》发表于全国抗恶劣环境计算机第二十三届学术年会。该文针对反相器在单粒子效应（SET）下的敏感区域进行研究，提出通过源级隔离技术降低敏感面积的方法。文章分析了不同结构对SET响应的影响，为提高电路抗辐射能力提供了理论依据和技术支持。
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