会议论文《超声二次底波法检测20Cr1Mo1VTiB紧固件晶粒级别的研究》探讨了利用超声二次底波法对20Cr1Mo1VTiB材料紧固件进行晶粒级别检测的可行性与有效性。该研究为提高紧固件质量控制水平提供了新的技术手段,具有重要的工程应用价值。
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