会议论文《一种简单精确的超高频射频识别标签芯片灵敏度测试方法》提出了一种高效且准确的测试技术，旨在提升超高频RFID标签芯片的性能评估效率。该方法通过优化测试流程和减少外部干扰，提高了测试精度，适用于实际应用中的快速检测需求。研究为RFID技术的发展提供了有力支持，具有重要的工程价值。
文档为pdf格式，1.03MB，总共4页。
举报
