会议论文《基于PL-EL图像对晶体硅电池隐性缺陷的监测》发表于第13届中国光伏大会，探讨了利用光致发光（PL）和电致发光（EL）图像技术检测晶体硅太阳能电池中的隐性缺陷。该研究为提高光伏组件的质量和可靠性提供了有效手段，对推动光伏产业技术进步具有重要意义。
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